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激光掃描測頭XC65Dx
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激光掃描測頭XC65Dx

  • 詳情說明

激光掃描測頭XC65Dx

  本品為速度、精度、使用便捷性實現高度平衡的最尖端機型。最適合需要短時間測量較大範圍、且不希望降低精度的用途。掃描性能可達每秒20萬點,且搭載了ESP算法,對於大型零件的光澤表麵及有色差等的複合材料表麵,也能在短時間內實現與CAD的對比。
  功能/特點
  ●搭載第四代ESP4技術,可實現穩定的點群采集
  ●既有每秒20萬點的高速掃描性能,同時還可維持高精度
  ●內置新開發的測距導向裝置和旋轉支架,使用更方便